日本王子OSI細微異物測量裝置（雜點測量裝置）DIP-2000
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產品名稱: 日本王子OSI細微異物測量裝置（雜點測量裝置）DIP-2000
產品型號: DIP-2000
產品展商: 日本OSI王子
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簡單介紹
日本王子OSI細微異物測量裝置（雜點測量裝置）DIP-2000
細微異物測量裝置，DIP-2000，測量到0.5μm的細微異物。專用viewer根據圖像對比的數據，一邊確認使用。oji-keisoku，陜西西安，四川成都，貴州貴陽，云南昆明，重慶
日本王子OSI細微異物測量裝置（雜點測量裝置）DIP-2000
日本王子OSI細微異物測量裝置（雜點測量裝置）DIP-2000
的詳細介紹
日本王子OSI細微異物測量裝置（雜點測量裝置）DIP-2000
細微異物測量裝置，DIP-2000，測量到0.5μm的細微異物。
專用viewer根據圖像對比的數據，一邊確認使用
0.5μmまでの微細異物計測
オートフォーカス裝置による鮮明な畫像
ジョイスティック付き自動XYステージにより操作性向上
色付き粒子の測定も可能
粒徑、面積、形狀ほか51種類の測定項目
専用ビューアにより畫像と対比しながらデータ確認が可能
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畫像処理部：
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コンピュータ CPU
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Pentium4以上
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OS
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Windows XP
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畫像処理モジュール
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PCIバス対応フレームグラバ
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畫像解像度
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640畫素(H)×475畫素(V)
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輝度階調
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RGB 各8bit 256階調
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分解能
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約0.5μm/畫素～約10μm/畫素（顕微鏡倍率による）
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ソフトウェア
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DA-7000システムソフトウェア
DIPソフトウェア
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光學系：
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金屬顕微鏡
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対物レンズ5倍、10倍、20倍（測定対象により変わります）
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照明裝置
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ハロゲンランプ光源
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X-Yステージ：
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駆動方式
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パルスモータ駆動
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ストローク
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150mm(X軸)×150mm(Y軸)
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その他
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2軸制御ステージコントローラ、ジョイスティック
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AF裝置：
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方式
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映像信號
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その他
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全焦點畫像生成機能（オプション）
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