成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI高速缺陷觀測設(shè)備CR6300(Defect Review SEM)
如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI高速缺陷觀測設(shè)備CR6300(Defect Review SEM)
產(chǎn)品型號: CR6300
產(chǎn)品展商: 日本日立HITACHI
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI高速缺陷觀測設(shè)備CR6300(Defect Review SEM)
運用ADR和高精度ADC來為提高良率做貢獻(xiàn)的Inline缺陷觀測SEM。
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI高速缺陷觀測設(shè)備CR6300(Defect Review SEM)
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI高速缺陷觀測設(shè)備CR6300(Defect Review SEM)
的詳細(xì)介紹
特長
-
高畫質(zhì)，高對此，高解析度SEM圖像
-
高速缺陷攝像（ADR）
-
人性化的GUI
-
＜選項＞
-
-
自動缺陷分類（ADC）
-
Bare wafer自動觀測
-
檢查制程說明書（iPQ）
-
